Semerfei Axia Chemi SEM scanning electron microscope
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Semerfei Axia Chemi SEM scanning electron microscope

About the product

Characteristic

Origin

Shanghai

Item No.

Axia Chemi

Type

-

Brand

Semerfly

Scanning mode

-

Model

Axia Chemi

Effective pixel

-

Import or not

No

Measurement accuracy

-

Customized processing

No

Order Number

Axia Chemi

Scan range

-

Description

 





Axia ChemiSEM性能参数

 
标配

  • 电动伸缩式背散射探测器

  • TrueSight EDS 探测器

  • Nav-Cam —样品台全彩光学导航

  • 多功能控制面板

  • 红外CCD相机

  • Maps自动连拍及大面积拼接软件
分辨率

  • 30 kV 时 3.0 nm (SE)

  • 30 kV 时 3.0 nm (SE)（低真空）

  • 3 kV 时 8.0 nm (SE)

  • 3 kV 时 7.0 nm（BD 模式* + BSE）
仓室

  • 内宽：280 mm

  • 接口：多个附件接口，可加装EBSD 和 EDS 等多种附件。
载物台

  • XY：120x120 mm

  • 倾斜：-15 到 +90 度

  • 旋转：n x 360°

  • 在 ZTR 轴已卸下时：

    • 样品高度达：128 mm

    • 样品重量达：10 kg
可选配置

  • 大面积TrueSight EDS 探测器

  • Quasor-II EBSD

  • ChemiSEM 高级功能，可实现漂移矫正及谱峰剥离

  • ChemiView 用于能谱离线数据处理

  • 电子束减速模式

  • CleanHeater 加热台 (高1,100°C)

  • 阴极荧光探测器

  • AutoScript 4 Software—基于Python的应用程序编程界面

  • Thermo Scientific TopoMaps 软件实现图像着色及分析，以及3D表面重构

Characters

Properties

Origin

Shanghai

Item No.

Axia Chemi

Type

-

Brand

Semerfly

Description

 





Axia ChemiSEM性能参数

 
标配

  • 电动伸缩式背散射探测器

  • TrueSight EDS 探测器

  • Nav-Cam —样品台全彩光学导航

  • 多功能控制面板

  • 红外CCD相机

  • Maps自动连拍及大面积拼接软件
分辨率

  • 30 kV 时 3.0 nm (SE)

  • 30 kV 时 3.0 nm (SE)（低真空）

  • 3 kV 时 8.0 nm (SE)

  • 3 kV 时 7.0 nm（BD 模式* + BSE）
仓室

  • 内宽：280 mm

  • 接口：多个附件接口，可加装EBSD 和 EDS 等多种附件。
载物台

  • XY：120x120 mm

  • 倾斜：-15 到 +90 度

  • 旋转：n x 360°

  • 在 ZTR 轴已卸下时：

    • 样品高度达：128 mm

    • 样品重量达：10 kg
可选配置

  • 大面积TrueSight EDS 探测器

  • Quasor-II EBSD

  • ChemiSEM 高级功能，可实现漂移矫正及谱峰剥离

  • ChemiView 用于能谱离线数据处理

  • 电子束减速模式

  • CleanHeater 加热台 (高1,100°C)

  • 阴极荧光探测器

  • AutoScript 4 Software—基于Python的应用程序编程界面

  • Thermo Scientific TopoMaps 软件实现图像着色及分析，以及3D表面重构

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