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About the product
Characteristic
Japan
638*860
50
3781151178
Ultrasonic distance meter
Mitutoyo mitutoyo
Look at the parameters
QV-A808P1L-D
54200
50
No
500
No
13693291657
Description
Mitutoyo三丰大型数控影像测量机QV-A808P1L-D
Mitutoyo三丰大型数控影像测量机QV-A808P1L-D
通过放大拍摄,测量测量物的微细形状
用光学透镜将测量物放大拍摄。在测量轻薄短小电子半导体部件、微小精密加工品医疗器械部件等时显示有用性。
通过非接触式测量,可防止测量物体的破损、变形、污损等。由于非接触式测量,因此不会担心测量物体出现故障。适用于要求清洁度的电子半导体部件、树脂成形品等软质物、冲压成形品等薄物的测量。
将测量物以高速多点测量
通过培养的图像处理技术和高速台控制可以实现高吞吐量测量。适用于测量项目较多或量产的测量物的管理
可实现高精度的非接触高度测量通过高性能图像自动对焦和非接触位移传感器,可实现高精度的高度测量。
在不移动立体物的情况下测量
触摸触发线圈
与触摸触发探头并用,无需旋转测量物体,也可在任意高度测量侧面,可对以往难以测量的立体物体进行测甲
高性能多功能自动对焦
OV系列标准配备高性能图像自动对焦,确保图像自动对焦精度。通过多种自动对焦工具,可根据每个表面性状和测量部位选择最佳对焦,可实现高可靠性的高度测量。此外,自动对焦速度也很快实现了总测量吞吐量的提升。
本体结构采用门移动的大物测量用图像测量机。
、门移动结构由于工作台不会移动,因此可简化工件的固定方法,适用于轻薄短小焊接。
OVACCEL1212(测量范围:1250x1250x100mm)、QVACCEL 1517(测量范围:1500x1750x100 mm)可以特注处理。
Characters
Japan
638*860
50
3781151178
Description
Mitutoyo三丰大型数控影像测量机QV-A808P1L-D
Mitutoyo三丰大型数控影像测量机QV-A808P1L-D
通过放大拍摄,测量测量物的微细形状
用光学透镜将测量物放大拍摄。在测量轻薄短小电子半导体部件、微小精密加工品医疗器械部件等时显示有用性。
通过非接触式测量,可防止测量物体的破损、变形、污损等。由于非接触式测量,因此不会担心测量物体出现故障。适用于要求清洁度的电子半导体部件、树脂成形品等软质物、冲压成形品等薄物的测量。
将测量物以高速多点测量
通过培养的图像处理技术和高速台控制可以实现高吞吐量测量。适用于测量项目较多或量产的测量物的管理
可实现高精度的非接触高度测量通过高性能图像自动对焦和非接触位移传感器,可实现高精度的高度测量。
在不移动立体物的情况下测量
触摸触发线圈
与触摸触发探头并用,无需旋转测量物体,也可在任意高度测量侧面,可对以往难以测量的立体物体进行测甲
高性能多功能自动对焦
OV系列标准配备高性能图像自动对焦,确保图像自动对焦精度。通过多种自动对焦工具,可根据每个表面性状和测量部位选择最佳对焦,可实现高可靠性的高度测量。此外,自动对焦速度也很快实现了总测量吞吐量的提升。
本体结构采用门移动的大物测量用图像测量机。
、门移动结构由于工作台不会移动,因此可简化工件的固定方法,适用于轻薄短小焊接。
OVACCEL1212(测量范围:1250x1250x100mm)、QVACCEL 1517(测量范围:1500x1750x100 mm)可以特注处理。