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Новый высокоточный OGP Smartscope Vantage250 3D-измеритель изображений перед двойной двенадцатью фестивалем
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Новый высокоточный OGP Smartscope Vantage250 3D-измеритель изображений перед двойной двенадцатью фестивалем
Mahsulot haqida
Xususiyatlar
- Происхождение
Дунгуань
- Рабочая температура
20°C
- Цель
научные исследования
- Импортировано ли оно?
Нет
Tavsif
布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜
大面板计量系统
HDI-PCB生产的综合测量
ContourSP大面板计量系统拥有十多年的包装计量专业知识，是上一代SP型号的高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量吞吐量的两倍以上。ContourSP专为在制造过程中测量PCB板的每一层而设计，并具有许多*功能，可为半导体封装行业提供高的生产性能，便利性，可靠性和吞吐量。
具有量规的ContourSP利用直观的生产界面，通过可配置的用户输入提供快速简便的基准对准。只有ContourSP才能确保少的配方开发时间，高的产量，长的正常运行时间以及生产中每个被测面板的低成本。

测量速度更快，可测量面积更大
ContourSP 3D光学显微镜具有Vision64®操作和分析软件，以及业界直观的模块化用户界面，可为广泛的表面轮廓测量应用提供用户级定制功能。该系统还利用了布鲁克公司基于龙门架的革命性设计和集成工作站，可在高度紧凑的占地面积内支持多达600x600毫米的样品。
布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜
*的功能可实现高生产力
动态信号分割
重新测量功能
形貌扫描以补偿晶圆弯曲
坐标文件导入，ESD，Panel ID读取器
模式识别
基于Vision64的操作员访问控制
大面板计量系统
HDI-PCB生产的综合测量
ContourSP大面板计量系统拥有十多年的包装计量专业知识，是上一代SP型号的高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量吞吐量的两倍以上。ContourSP专为在制造过程中测量PCB板的每一层而设计，并具有许多*功能，可为半导体封装行业提供高的生产性能，便利性，可靠性和吞吐量。
具有量规的ContourSP利用直观的生产界面，通过可配置的用户输入提供快速简便的基准对准。只有ContourSP才能确保少的配方开发时间，高的产量，长的正常运行时间以及生产中每个被测面板的低成本。

测量速度更快，可测量面积更大
ContourSP 3D光学显微镜具有Vision64®操作和分析软件，以及业界直观的模块化用户界面，可为广泛的表面轮廓测量应用提供用户级定制功能。该系统还利用了布鲁克公司基于龙门架的革命性设计和集成工作站，可在高度紧凑的占地面积内支持多达600x600毫米的样品。
布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜
*的功能可实现高生产力
动态信号分割
重新测量功能
形貌扫描以补偿晶圆弯曲
坐标文件导入，ESD，Panel ID读取器
模式识别
基于Vision64的操作员访问控制
Barcha xususiyatlar
Xususiyatlari
- Происхождение
Дунгуань
- Рабочая температура
20°C
- Цель
научные исследования
- Импортировано ли оно?
Нет
Tavsif
布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜
大面板计量系统
HDI-PCB生产的综合测量
ContourSP大面板计量系统拥有十多年的包装计量专业知识，是上一代SP型号的高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量吞吐量的两倍以上。ContourSP专为在制造过程中测量PCB板的每一层而设计，并具有许多*功能，可为半导体封装行业提供高的生产性能，便利性，可靠性和吞吐量。
具有量规的ContourSP利用直观的生产界面，通过可配置的用户输入提供快速简便的基准对准。只有ContourSP才能确保少的配方开发时间，高的产量，长的正常运行时间以及生产中每个被测面板的低成本。

测量速度更快，可测量面积更大
ContourSP 3D光学显微镜具有Vision64®操作和分析软件，以及业界直观的模块化用户界面，可为广泛的表面轮廓测量应用提供用户级定制功能。该系统还利用了布鲁克公司基于龙门架的革命性设计和集成工作站，可在高度紧凑的占地面积内支持多达600x600毫米的样品。
布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜
*的功能可实现高生产力
动态信号分割
重新测量功能
形貌扫描以补偿晶圆弯曲
坐标文件导入，ESD，Panel ID读取器
模式识别
基于Vision64的操作员访问控制
大面板计量系统
HDI-PCB生产的综合测量
ContourSP大面板计量系统拥有十多年的包装计量专业知识，是上一代SP型号的高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量吞吐量的两倍以上。ContourSP专为在制造过程中测量PCB板的每一层而设计，并具有许多*功能，可为半导体封装行业提供高的生产性能，便利性，可靠性和吞吐量。
具有量规的ContourSP利用直观的生产界面，通过可配置的用户输入提供快速简便的基准对准。只有ContourSP才能确保少的配方开发时间，高的产量，长的正常运行时间以及生产中每个被测面板的低成本。

测量速度更快，可测量面积更大
ContourSP 3D光学显微镜具有Vision64®操作和分析软件，以及业界直观的模块化用户界面，可为广泛的表面轮廓测量应用提供用户级定制功能。该系统还利用了布鲁克公司基于龙门架的革命性设计和集成工作站，可在高度紧凑的占地面积内支持多达600x600毫米的样品。
布鲁克ContourSP三维工业光学显微镜
*的功能可实现高生产力
动态信号分割
重新测量功能
形貌扫描以补偿晶圆弯曲
坐标文件导入，ESD，Panel ID读取器
模式识别
基于Vision64的操作员访问控制